Quality Made in Germany since 1995

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Mikroskoptische

Probentische für Mikroskope

Es kommt überraschend häufig vor, dass geeignete Tische für  neue oder spezielle Applikationen in der Raster-Elektronenmikroskopie benötigt werden. Wir fertigen Einzelstücke oder eine Kleinserie für Ihren individuellen Bedarf. Unsere besondere Stärke liegt darin, auch ausgefallene und schwierige Tische für die Mikroskopie herzustellen.

Mikroskoptische

  • Das ZRT-Modul ersetzt den original ZRT-Tisch des Zeiss-Mikroskops.
  • Es ermöglicht eine Rotation um 360°, eine Kippung (Tilt) um bis zu 90° und eine lineare Bewegung bis zu 30 mm.
  • Neben dem erweiterten Z-Hub unterscheidet sich das Modul vom Originaltisch vor allem in der größeren Tragfähigkeit (maximal 2.5 kg).

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Probentische mit Piezoantrieb

  • Geeignet für unterschiedlichste Anwendungen, wie zum Beispiel Fehleranalysen und Messungen von Halbleiterbauelementen, Probenpositionierungen oder Mikromanipulationen.
  • Hochpräzise Positionierung mit einer Stellgenauigkeit von 10 nm bei Verfahrgeschwindigkeiten zwischen 4mm/s und 1nm/s.

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Piezotische K&W

  • Die verbauten Piezoantriebe ermöglichen ein genaues Verfahren und Positionieren.
  • Bewegungsauflösung: < 10 nm
  • Geschwindigkeit: 4000 μm/sek. bis 0,001 μm/sek. 

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Blendenschieber

  • Das XY-Modul eignet sich zur Positionierung von Bauelementen oder Proben.
  • Jede Probe kann über einen eigenen Kreuztisch in x- und y- Richtung beliebig verfahren werden.
  • Die Kreuztische sind auf einer Grundplatte befestigt, die wie eine große Probe auf den Probentisch des Mikroskops gesetzt wird.

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Mikroskoptische

  • Das ZRT-Modul ersetzt den original ZRT-Tisch des Zeiss-Mikroskops.
  • Es ermöglicht eine Rotation um 360°, eine Kippung (Tilt) um bis zu 90° und eine lineare Bewegung bis zu 30 mm.
  •  Neben dem erweiterten Z-Hub unterscheidet sich das Modul vom Originaltisch vor allem in der größeren Tragfähigkeit (maximal 2.5 kg).

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Ein mechanisches Bauteil mit einer Metallbasis, zahlreichen Schrauben und einem integrierten kupferfarbenen runden Teil mit einer daran befestigten kleinen Platine. Das Tische-Bauteil scheint Teil eines Präzisionsinstruments oder einer Maschine zu sein.

Probentische mit Piezoantrieb

  • Geeignet für unterschiedlichste Anwendungen, wie zum Beispiel Fehleranalysen und Messungen von Halbleiterbauelementen, Probenpositionierungen oder Mikromanipulationen.
  • Hochpräzise Positionierung mit einer Stellgenauigkeit von 10 nm bei Verfahrgeschwindigkeiten zwischen 4mm/s und 1nm/s.

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Eine Nahaufnahme einer präzisen mechanischen Baugruppe mit einem goldfarbenen Hebelarm, der an ein Aushebewerkzeug erinnert und mit einer detailreichen Metallbasis mit mehreren Scharnieren und beweglichen Teilen verbunden ist. Die Baugruppe steht auf einer Metallmontageplatte mit vier Schraubenlöchern.

Piezotische K&W

  • Die verbauten Piezoantriebe ermöglichen ein genaues Verfahren und Positionieren.
  • Bewegungsauflösung: < 10 nm
  • Geschwindigkeit: 4000 μm/sek. bis 0,001 μm/sek.

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Eine Nahaufnahme eines metallischen mechanischen Tische-Bauteils mit goldener Basis und silberner Mechanik auf der Oberseite, mit verschiedenen Schrauben und Teilen. Das Bauteil ist vor einem neutralen, hellgrauen Hintergrund platziert.

Blendenschieber

  • Das in dieser Bedienungsanleitung beschriebenen XY-Modul eignet sich zur Positionierung von Bauelementen oder Proben.
  • Jede Probe kann über einen eigenen Kreuztisch in x-, und y- Richtung beliebig verfahren werden.
  • Die Kreuztische sind auf einer Grundplatte befestigt, die wie eine große Probe auf den Probentisch des Mikroskops gesetzt wird.

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Ein metallisches zylindrisches Bauteil mit einem Flansch an einem Ende mit Bolzenlöchern und einer rechteckigen Basis am anderen Ende, das an Tische-Designs erinnert. Der Hauptkörper ist glatt und reflektierend, was darauf hindeutet, dass es sich um einen Teil einer Maschine oder eines Industriegeräts handeln könnte.

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