Quality Made in Germany since 1995

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Tische

Tables

Es kommt überraschend häufig vor, dass geeignete Tische für  neue oder spezielle Applikationen in der Raster-Elektronenmikroskopie benötigt werden. Wir fertigen Einzelstücke oder eine Kleinserie für Ihren individuellen Bedarf. Unsere besondere Stärke liegt darin, auch ausgefallene und schwierige Tische für die Mikroskopie herzustellen.

Mikroskoptische

  • Das ZRT-Modul ersetzt den original ZRT-Tisch des Zeiss-Mikroskops.
  • Es ermöglicht eine Rotation um 360°, eine Kippung (Tilt) um bis zu 90° und eine lineare Bewegung bis zu 30 mm.
  • Neben dem erweiterten Z-Hub unterscheidet sich das Modul vom Originaltisch vor allem in der größeren Tragfähigkeit (maximal 2.5 kg).

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Probentische mit Piezoantrieb

  • Geeignet für unterschiedlichste Anwendungen, wie zum Beispiel Fehleranalysen und Messungen von Halbleiterbauelementen, Probenpositionierungen oder Mikromanipulationen.
  • Hochpräzise Positionierung mit einer Stellgenauigkeit von 10 nm bei Verfahrgeschwindigkeiten zwischen 4mm/s und 1nm/s.

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Piezotische K&W

  • Die verbauten Piezoantriebe ermöglichen ein genaues Verfahren und Positionieren.
  • Bewegungsauflösung: < 10 nm
  • Geschwindigkeit: 4000 μm/sek. bis 0,001 μm/sek. 

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Blendenschieber

  • Das XY-Modul eignet sich zur Positionierung von Bauelementen oder Proben.
  • Jede Probe kann über einen eigenen Kreuztisch in x- und y- Richtung beliebig verfahren werden.
  • Die Kreuztische sind auf einer Grundplatte befestigt, die wie eine große Probe auf den Probentisch des Mikroskops gesetzt wird.

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Mikroskoptische

  • Das ZRT-Modul ersetzt den original ZRT-Tisch des Zeiss-Mikroskops.
  • Es ermöglicht eine Rotation um 360°, eine Kippung (Tilt) um bis zu 90° und eine lineare Bewegung bis zu 30 mm.
  •  Neben dem erweiterten Z-Hub unterscheidet sich das Modul vom Originaltisch vor allem in der größeren Tragfähigkeit (maximal 2.5 kg).

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Probentische mit Piezoantrieb

  • Geeignet für unterschiedlichste Anwendungen, wie zum Beispiel Fehleranalysen und Messungen von Halbleiterbauelementen, Probenpositionierungen oder Mikromanipulationen.
  • Hochpräzise Positionierung mit einer Stellgenauigkeit von 10 nm bei Verfahrgeschwindigkeiten zwischen 4mm/s und 1nm/s.

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Piezotische K&W

  • Die verbauten Piezoantriebe ermöglichen ein genaues Verfahren und Positionieren.
  • Bewegungsauflösung: < 10 nm
  • Geschwindigkeit: 4000 μm/sek. bis 0,001 μm/sek.

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Blendenschieber

  • Das in dieser Bedienungsanleitung beschriebenen XY-Modul eignet sich zur Positionierung von Bauelementen oder Proben.
  • Jede Probe kann über einen eigenen Kreuztisch in x-, und y- Richtung beliebig verfahren werden.
  • Die Kreuztische sind auf einer Grundplatte befestigt, die wie eine große Probe auf den Probentisch des Mikroskops gesetzt wird.

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