Quality Made in Germany since 1995

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Spezialentwicklung

Special Developments

Die Positionierung der Probe, z.B. zur Untersuchung, Manipulation oder elektrischen Messung integrierter Schaltkreise (IC-Test) erfolgt unter Beobachtung mit Hilfe eines Lichtmikroskopes, Raster-Elektronenmikroskopes (REM) oder Ionenstrahlmikroskopes (FIB).

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