Quality Made in Germany since 1995

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Biege-Module

Bending modules

Biege-Modul 200N Drauf-/Seitenansicht

  • Verformungsgerät geeignet für Arbeiten unter Vakuum im Rasterelektronenmikroskop, Lichtmikroskop sowie AFM.
  • Stufenlos verstellbarer Geschwindigkeitsbereich von 0,1 bis 20 μm/sec.
  •  Der Kraftbereich ist auf 500 N erweiterbar
  • 3- & 4-Punkt-Biegungen möglich, sowie konvex oder konkav

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Biege-Modul 5 kN für Seitenansicht

  • Verformungsgerät geeignet für Arbeiten unter Vakuum im Rasterelektronenmikroskop, Lichtmikroskop sowie AFM.
  • Ansicht der Proben-Schnittkante (Seitenansicht)
  • Stufenlos verstellbarer Geschwindigkeitsbereich von 2 bis 150 μm/sec.
  • Für 3- und 4-Punkt Biegung

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Biege-Modul 5 kN für Draufansicht

  • Verformungsgerät geeignet für Arbeiten unter Vakuum im Rasterelektronenmikroskop, Lichtmikroskop sowie AFM.
  • Stufenlos verstellbarer Geschwindigkeitsbereich von 2 bis 150 μm/sec.
  • Für 3- und 4-Punkt Biegung

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Kipp-Biegemodul 200N

  • For compression experiments
  • Low and high forces
  • Holder to be used in the tensile module as an exchangeable compression device. Suitable for X-ray applications

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Biege-Modul 200 Seiten- & Draufansicht

  • Für Arbeiten unter Vakuum im Rasterelektronenmikroskop, Lichtmikroskop, AFM o.ä.
  • Stufenlos verstellbarer Geschwindigkeitsbereich von 0,1 bis 20 μm/sec.
  •  Der Kraftbereich ist auf 500 N erweiterbar
  • 3- & 4-Punkt-Biegungen möglich, sowie konvex oder konkav

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Biege-Modul 5000N für Draufansicht

  • Verformungsgerät geeignet für Arbeiten unter Vakuum im Rasterelektronenmikroskop, Lichtmikroskop sowie AFM.
  • Ansicht der Proben-Schnittkante (Seitenansicht)
  • Stufenlos verstellbarer Geschwindigkeitsbereich von 2 bis 150 μm/sec.
  • Für 3- und 4-Punkt Biegung

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Biege-Modul 5000N für Draufansicht

  • Verformungsgerät geeignet für Arbeiten unter Vakuum im Rasterelektronenmikroskop, Lichtmikroskop sowie AFM.
  • Stufenlos verstellbarer Geschwindigkeitsbereich von 2 bis 150 μm/sec.
  • Für 3- und 4-Punkt Biegung

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