Verformungsgerät geeignet für Arbeiten unter Vakuum im Rasterelektronenmikroskop, Lichtmikroskop sowie AFM.
Stufenlos verstellbarer Geschwindigkeitsbereich von 0,1 bis 20 μm/sec.
Der Kraftbereich ist auf 500 N erweiterbar
3- & 4-Punkt-Biegungen möglich, sowie konvex oder konkav
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Biege-Modul 5 kN für Seitenansicht
Verformungsgerät geeignet für Arbeiten unter Vakuum im Rasterelektronenmikroskop, Lichtmikroskop sowie AFM.
Ansicht der Proben-Schnittkante (Seitenansicht)
Stufenlos verstellbarer Geschwindigkeitsbereich von 2 bis 150 μm/sec.
Für 3- und 4-Punkt Biegung
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Biege-Modul 5 kN für Draufansicht
Verformungsgerät geeignet für Arbeiten unter Vakuum im Rasterelektronenmikroskop, Lichtmikroskop sowie AFM.
Stufenlos verstellbarer Geschwindigkeitsbereich von 2 bis 150 μm/sec.
Für 3- und 4-Punkt Biegung
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Kipp-Biegemodul 200N
For compression experiments
Low and high forces
Holder to be used in the tensile module as an exchangeable compression device. Suitable for X-ray applications
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Biege-Modul 200 Seiten- & Draufansicht
Für Arbeiten unter Vakuum im Rasterelektronenmikroskop, Lichtmikroskop, AFM o.ä.
Stufenlos verstellbarer Geschwindigkeitsbereich von 0,1 bis 20 μm/sec.
Der Kraftbereich ist auf 500 N erweiterbar
3- & 4-Punkt-Biegungen möglich, sowie konvex oder konkav
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Biege-Modul 5000N für Draufansicht
Verformungsgerät geeignet für Arbeiten unter Vakuum im Rasterelektronenmikroskop, Lichtmikroskop sowie AFM.
Ansicht der Proben-Schnittkante (Seitenansicht)
Stufenlos verstellbarer Geschwindigkeitsbereich von 2 bis 150 μm/sec.
Für 3- und 4-Punkt Biegung
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Biege-Modul 5000N für Draufansicht
Verformungsgerät geeignet für Arbeiten unter Vakuum im Rasterelektronenmikroskop, Lichtmikroskop sowie AFM.
Stufenlos verstellbarer Geschwindigkeitsbereich von 2 bis 150 μm/sec.
Für 3- und 4-Punkt Biegung
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