Wir setzen verschiedene Prüfverfahren ein, die das Verhalten von Materialproben unter extremen mechanischen oder thermischen Beanspruchungen ermitteln.
Zug- und Druck-Module
Statische und dynamische Beobachtung von Oberflächenveränderungen unter Zug- und Drucklast, Risswachstum, Delaminationserscheinungen, Bildung von Gleitbereichen. Zug- und Druckmodule verwendbar in den meisten Rasterelektronenmikroskopen.
Statische oder dynamische Beobachtung von Oberflächenveränderungen unter Last, Risswachstum, Delaminationserscheinungen, Bildung von Gleitbereichen. Biege-Module verwendbar in den meisten Rasterelektronenmikroskopen.
In der Mikroskopie zählt die Härteprüfung zu einer der Komplexesten. Unsere Geräte sind auf alle Proben, von klein bis groß, hart oder weich, perfekt ausgerichtet und berücksichtigen zudem die Anforderungen unterschiedlicher Messverfahren.
Die Einspannungen sind für die Verwendung mit Kammrath & Weiss-Modulen ausgelegt. Finden Sie die optimale Einspannung für Ihre Anwendung oder kontaktieren Sie uns. Wir unterstützen Sie gerne.
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