REM Test

In situ REM Test mit hochwertigen Modulen

Heutzutage haben wir hervorragende Analysemöglichkeiten, die es ermöglichen, Proben zur Zeit der Reaktion auf bestimmte Einwirkungen und Faktoren, zu betrachten. Diese in situ SEM Tests dienen zur Ergebnisdokumentation und der eventuellen Veränderung oder Verbesserung von Materialien. Mit Modulen wie zum Beispiel dem Zugmodul mit optionaler Druckfunktion können Proben mit einer maximalen Länge von 20 bis 60 mm, einer Breite von 10 mm und einer Höhe von 5 mm getestet werden. Das Modul passt auf einen Standard-Probentisch in eine Vielzahl von Raster-Elektronen-Mikroskopen und erlaubt so einen in situ REM Test durchzuführen. Das Zug-/Druckmodul hat in der Standardausführung einen Kraftbereich von bis zu 5 kN und kann den Prüfling maximal 45 mm weit ziehen oder drücken. Die hervorragende Bauweise, sorgt anhand von Feingewindespindeln mit Rechts- und Linksgewinde dafür, dass die Beobachtungsstelle praktisch statisch bleibt. Das Modul wird mit einem umfangreichen Softwarepaket geliefert, welches Ihnen eine große Auswahl an Funktionen anbietet. Während dem REM Test werden Graphen anhand von zuvor eingegebenen Parametern erstellt, zyklische Versuche durchgeführt und Dateien sowie Unterroutinen abgespeichert und können wieder aufgerufen werden. Weiter bietet die Software die Berechnung von Elastizitätsmodulen und berücksichtigt die Eigensteifigkeit. Bruchkontrollen, Rampenfunktionen und viele weitere, nützliche Optionen kommen hinzu. Dieser in situ REM Test kann beispielsweise mit einem Heizmodul ergänzt werden. Eine Möglichkeit ist das Peltier-Modul, welches sowohl kühlen als auch heizen kann und einen Temperaturbereich von -25°C bis +50°C in der Standardausführung verfügt. Zudem kann das Modul innerhalb einer Minute einen Temperaturwechsel von 30°C bewerkstelligen. Größere Temperaturbereiche sind auf Anfrage möglich. Wenn der Prüfling extremeren Temperaturen ausgesetzt werden soll, eignen sich entsprechende Heizmodule oder Cryo-Tische. Ein weiterer, gerade in der Materialforschung, wichtiger Test wird mit Biegemodulen durchgeführt. Die statische oder dynamische in situ Beobachtung der Oberflächenveränderung unter Last, gibt Aufschluss über das Risswachstum, die Bildung von Gleitbereichen und Delaminationserscheinungen. Wir fokussieren uns auf Spezialentwicklungen für die Mikroskopie, um für jede Art von Problemen eine passende Lösung für Sie zu haben. Gerne setzen wir uns mit Ihnen zusammen um eventuelle Lösungsansätze zu konzipieren, sollte keines der existierenden Hilfsmittel die passende Lösung bieten.

Probenvoraussetzung und Probenvorbereitung für den REM Test

In den meisten Fällen muss die Probe für den REM Test vakuumverträglich sein. Bei der Untersuchung von Isolatoren sind Aufladungseffekte oftmals ein großes Problem, denn die Probe lädt sich lokal auf. In so einem Fall, kann man die Probe mit einer dünnen Metallschicht sputtern oder mit Kohlenstoff bedampfen um sie leitfähig zu machen. Alternativ kann am REM die Beschleunigungsspannung verringert werden, um den Aufladungseffekt zu minimieren. Die Probe zum Detektor hinzukippen wäre eine weitere Möglichkeit um das Signal zu verbessern.

Der Universal-Probenhalter für ungleichförmige Proben

Der Universal-Probenhalter ist eine der Spezialentwicklungen von Kammrath & Weiss. Der mit Wood´schem Metall gefüllte Tiegel, bietet die Möglichkeit, sperrige, unhandliche und empfindliche Proben, leicht einspannen zu können. Das Metall schmilzt bereits bei der Temperatur einer Tasse Kaffee und dehnt sich beim Abkühlen leicht aus. So ist gewährleistet, dass die Prüflinge beim REM Test nicht verrutschen und fest mit dem Tiegel verbunden sind. Das Metall ist von allen Oberflächen leicht löslich. Zum Erhitzen eignet sich ideal eine optionale Heizplatte. Zusätzliche Informationen finden Sie auf www.Kammrath-Weiss.de.

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