Biegemodul 5kN (Oberfläche)

Für 3- und 4-Punkt-Biegeversuche

Dieses Verformungsgerät für das Rasterelektronenmikroskop lässt sich mit wenigen Handgriffen (Auswechseln der Mittenauflage) von 3-Punkt auf 4-Punkt-Biegeversuche umrüsten. Die Prüflinge sollten 28 bis 40 mm lang, maximal 15 mm breit und maximal 4 mm dick sein.
Der Grundgedanke der Konstruktion ist, einen extrem starren Rahmen zu schaffen, der vernachlässigbare Eigenflexibilität besitzt. Bei besonders spröden Proben (z.B. Keramik) ist es damit möglich, das Einsetzen feinster Risse im REM zu detektieren, ohne dass der Prüfling durch Rückfedern des Kraftrahmens schlagartig zerspringt. Mit extrem feingängiger Bewegung kann der Biegeversuch fortgeführt werden, so dass die Rissfortsetzung bequem verfolgt und jederzeit angehalten werden kann. Die Beobachtungsstelle bleibt immer in der gleichen Höhe, so dass eine Fokuskorrektur während des gesamten Versuchsablaufes - wenn überhaupt, dann nur im feinsten Bereich erforderlich ist. Zwei leicht austauschbare Getriebesätze erlauben das Arbeiten entweder von 0,05 bis 4 µm/sec oder von 2 bis 150 µm/sec.
Die manuelle Mess- und Antriebselektronik besteht aus LED-Anzeigegerät für Kraft und/oder Weg und einer Handsteuerung für stufenlose Geschwindigkeitsregelung und Richtungstasten zum Be- und Entlasten. BNC-Ausgänge an der Steuerung können mit einem XY-Plotter verbunden werden, um Kraft-Weg-Diagramme zu schreiben.
Eine rechnergesteuerte Mikroprozessoreinheit mit reichhaltigem Softwarepaket wird alternativ angeboten. Sie öffnet den freien Zugriff zu einer Vielzahl von Parametern, bietet zyklische Versuche, das Speichern und Wiederaufrufen von Dateien und viele Unterroutinen.
Spezifikationen: Biegemodul für 3- und 4-Punkt-Biegeversuche (1 000 N)
Dieses Gerät gehört zu einer Gerätereihe, deren Mitglieder alle von derselben Steuerung betreibbar sind. Seit Januar 1997 stehen neue Kraftbereiche zur Auswahl: 50 N, 100 N, 200 N, 500 N, 1 000 N, 2 000 N, 5 000 N.
Anwendungsbereiche
Statische oder dynamische Beobachtung von Oberflächenveränderungen unter Last, Rißwachstum, Delaminationserscheinungen, Bildung von Gleitbereichen. Verwendbar in den meisten Rasterelektronenmikroskopen. Drei kleine Standflächen ermöglichen den Betrieb an Luft, z. B. unter dem Lichtmikroskop. Für Keramik, Metalle, Glas, keramische oder galvanische Beschichtungen, Löt- und Schweißstellen, Mineralien, Holz und organische Materialien.
Leistungsdaten
  • Kraftbereiche: 0 ... 5kN.
  • Proben (Maximalmaße): 40 x 10 x 4 mm
  • Geschwindigkeiten: 0,05 bis 4 (Getriebe 1) und 2 bis 150 µm/sec (Getriebe 2).
  • Biegeweg: 0 bis 5 mm pro Experiment. Der Wegemeßstift kann nachgerückt werden.
  • Anschluß: 230 / 110 V. Ein 15-poliger Stecker an der REM-Kammerwand.
  • Maße: 100 x 130 x 60 mm einschl. Spannring für den Probentisch.
Steuerungen
Handsteuerung für manuellen Betrieb oder Mikroprozessorsteuerung mit PC-Software.

Pic.1: Bending Module 5 000 N

Pic.1: Bending Module 5 000 N

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