Biegemodul 200 N

Der "Elektronenstrahl" symbolisiert die Blickrichtung des Mikoskops - es könnte sich hierbei auch um ein Lichtmikroskop, ein Ultraschallmikroskop oder ein Kraftmikroskop handeln. Letztere zwei benötigen oft sehr kurze Arbeitsabstände. Darum wurde bei der Konstruktion auf gute Zugänglichkeit der Probenoberfläche - sowohl von der Seite, als auch von oben - geachtet.
Spezifikationen
Biegemodul für 3- und 4-Punkt-Biegeversuche: 200 N
Dieses Gerät gehört zu einer Gerätereihe, deren Mitglieder alle von derselben Steuerung betreibbar sind. Diese Entwicklung ermöglicht die Ansicht der Proben von oben und von der Seite. Beim Wechseln der Abbildungslage kann die Probe ohne Änderung der Kraft eingespannt bleiben.
Anwendungsbereiche
Statische oder dynamische Beobachtung von Oberflächenveränderungen unter Last, Rißwachstum, Delaminationserscheinungen, Bildung von Gleitbereichen. Verwendbar in den meisten Rasterelektronenmikroskopen.
Für Keramik, Metalle, Glas, keramische oder galvanische Beschichtungen, Löt- und Schweißstellen, Mineralien, Holz und organische Materialien.
Zwei Flächen bilden drei kleine Auflagen, um den Betrieb an Luft sowohl in aufrechter als auch gekippter Lage - z.B. unter (einigen) AFM oder dem Lichtmikroskop zu ermöglichen.
Leistungsdaten
  • Kraftbereich: 0 ... 200 N.
  • Proben (Maximalmaße): 48 x 10 x 4 mm.
  • Geschwindigkeiten: 0,5 bis 100 µm/sec.
  • Biegeweg: 0 bis 5 mm pro Experiment.
  • Anschluß: 230 / 110 V. Ein 15-poliger Stecker an der REM-Kammerwand.
  • Maße in mm (B/H/L): 40 x 40 x 180 mm.
Steuerungen
Handsteuerung für manuellen Betrieb oder Mikroprozessorsteuerung mit PC-Software. Ausführliche Beschreibung des Steuersystems und der Software auf Anfrage.

Kipp-Biegemodul 200N

Abb.1: Der Strahl trifft die Planfläche der Probe

Abb.2: Der Strahl trifft die Schnittfläche der Probe

Abb.2: Der Strahl trifft die Schnittfläche der Probe

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