Biegemodul 5kN (Seitenfläche)

Biegemodul für 3- und 4-Punkt Biegeversuche,
Kraftbereich: bis 5kN

Anders als beim Biegemodul "5kN für Oberfläche" wird bei diesem Gerät die Abbildung der Probe in der Seitenansicht (Schnittfläche) während der Verformung ermöglicht. Bei den hohen Kräften ist eine Kombination beider Ansichten wie beim 200-N-Biegemodul nicht möglich, ohne eine Verformung des Gerätes selbst zu riskieren.
Dieses Verformungsgerät wurde u.a. nach Maß für den Einsatz unter dem Atomic Force Mikroskop NANOSCOPE III hergestellt. Es ist auch für Arbeiten unter Vakuum im Rasterelektronenmikroskop geeignet. Mit wenigen Handgriffen (Auswechseln der Druckauflage) wird von 3-Punkt auf 4-Punkt-Biegeversuche umgestellt. Die Prüflinge sollten 40 mm lang, maximal 10 mm breit und maximal 4 mm dick sein. Beim Wechseln von einem Mikroskop zu einem anderen kann die Probe bei voller Kraft eingespannt bleiben, das ganze Modul wird transportiert.
Das Abbildungsfeld bleibt beim Durchbiegen der Probe ortsfest, so dass ein Nachführen während des gesamten Versuchsablaufes - wenn überhaupt, dann nur im Feinbereich erforderlich ist. Die Biegebewegung bleibt in der Fokusebene. Der stufenlos verstellbare Geschwindigkeitsbereich bietet von 2 bis 150 µm/sec.
Die manuelle Meß- und Antriebselektronik besteht aus LED-Anzeigen für Kraft und/oder Weg, sowie einer kleinen Handsteuerung ("Supermaus") für stufenlose Geschwindigkeitsregelung und Richtungstasten zum Be- und Entlasten. Ein RS232 und zwei BNC-Ausgänge an der Steuerung können mit einem XY-Plotter verbunden werden, um Kraft-Weg-Diagramme zu schreiben. Eine rechnergesteuerte Mikroprozessoreinheit mit reichhaltigem Softwarepaket wird alternativ angeboten. Sie öffnet den freien Zugriff zu einer Vielzahl von Parametern, bietet zyklische Versuche, das Speichern und Wiederaufrufen von Dateien und viele Unterroutinen.
Spezifikationen: Biegemodul für 3- und 4-Punkt-Biegeversuche (1 000 N)
Dieses Gerät gehört zu einer Gerätereihe, deren Mitglieder alle von derselben Steuerung betreibbar sind. Seit Januar 1997 stehen neue Kraftbereiche zur Auswahl: 50 N, 100 N, 200 N, 500 N, 1 000 N, 2 000 N, 5 000 N.
Anwendungsbereiche
Statische oder dynamische Beobachtung von Oberflächenveränderungen unter Last, Rißwachstum, Delaminationserscheinungen, Bildung von Gleitbereichen. Verwendbar in den meisten Rasterelektronenmikroskopen. Drei kleine Standflächen ermöglichen den Betrieb an Luft, z. B. unter dem Lichtmikroskop. Für Keramik, Metalle, Glas, keramische oder galvanische Beschichtungen, Löt- und Schweißstellen, Mineralien, Holz und organische Materialien.
Leistungsdaten
  • Kraftbereiche: 0 ...5 kN.
  • Proben (Maximalmaße): 40 mm x 10 mm x 4 mm
  • Geschwindigkeiten: 0,2 bis 150 µm/sec.
  • Biegeweg: 0 bis 5 mm pro Experiment. Der Wegemeßstift kann nachgerückt werden.
  • Anschluß: 220 / 110 V. Ein 15-poliger Stecker an der REM-Kammerwand.
  • Maße: 100 mm (170 mm mit stärkstem Motor dieser Reihe) x 130 mm x 60 mm einschließlich Spannring für den Probentisch.
Steuerungen
Handsteuerung für manuellen Betrieb oder Mikroprozessorsteuerung mit PC-Software.

Abb.1: Biegemodul 200 N - 5 000 N

Abb.1: Biegemodul 200 N - 5 000 N

Abb.2

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Abb.3

Abb.3

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