Materialprüfung
Die Materialprüfung unter dem (Licht-)Mikroskop ist eine seit Jahrzehnten bekannte Erweiterung der konventionellen Prüfmethoden. Unsere besondere Stärke liegt darin, eine Verbindung herzustellen zu:
- Raster-Elektronenmikroskopie,
- Raster-Kraftmikroskopie (AFM, "Atomic Force Microscopy")
- und – inzwischen auch den FIB(Focused Ion Beam)-Anwendern
neue Möglichkeiten zu schaffen, in-situ Beobachtungen durchzuführen unter
- Zug - Druck-, Biege- oder Torsionsbelastung und ...
- diese Versuche mit Heizung und/oder Kühlung zu verknüpfen ...
... und immer wieder neue Geräte nach Ihren Wünschen entstehen zu lassen.