Dieses Verformungsgerät für das Rasterelektronenmikroskop paßt wie eine große Probe auf den Probentisch. Die Prüflinge sollten 28 bis 60 mm lang, maximal 10 mm breit und maximal 3 mm hoch sein. An beiden Enden sollten geriebene Bohrungen (d=4 mm) sein. Zwei gehärtete Stifte greifen dort ein. So ist gewährleistet, daß sich die Probe nie verkanten kann.

Die Zugspindeln beidseitig der Probe haben je ein Rechts- und ein Linksgewinde an den Enden. So bleibt die Beobachtungsstelle immer nahezu still stehen.

Die manuelle Meß- und Antriebselektronik besteht aus einem LED-Anzeigegerät für Kraft und/oder Weg und einer Handsteuerung für stufenlose Geschwindigkeitsregelung und Richtungstasten zum Be- und Entlasten. BNC-Ausgänge an der Steuerung können mit einem XY-Plotter verbunden werden, um Kraft-Weg-Diagramme zu schreiben.

Eine rechnergesteuerte Mikroprozessoreinheit mit reichhaltigem Softwarepaket wird alternativ dazu angeboten. Sie öffnet den freien Zugriff zu einer Vielzahl von Parametern, bietet zyklische Versuche, das Speichern und Wiederaufrufen von Dateien und viele Unterroutinen, darin u. a. Eigenflexibilitäts-Korrektur und Berechnung des Elastizitätsmodules.

Dieses Gerät gehört zu einer Gruppe, deren Mitglieder alle von derselben Steuerung betreibbar sind.

Anwendungsbereiche

Statische und dynamische Beobachtung von Oberflächenveränderungen unter Zuglast, Rißwachstum, Delaminationserscheinungen, Bildung von Gleitbereichen. Verwendbar in den meisten Rasterelektronenmikroskopen. Vier kleine Standflächen ermöglichen den Betrieb in Luft, z. B. unter dem Lichtmikroskop. Verwendbar für Keramik, Metalle, Glas, keramische oder galvanische Beschichtungen, Löt- und Schweißstellen, Mineralien, Holz und organische Materialien.

Leistungsdaten

• Kraftbereiche: 0 ... 2 N bis 0 ... 5 000 N (10 000 N).
• Proben (Maximalmaße): 60 mm x 10 mm x 3 mm.
• Geschwindigkeiten: 0,05 bis 20 µm/sec.
• Zug-/Druck-Weg: 0 bis +/-5 mm pro Experiment. Der Wegemeßstift kann nachgerückt werden. Längere Wege auf Anfrage.
• Anschluß: 230/110 V, 15-poliger Stecker an der REM-Kammerwand.
• Maße: 100x150x60 mm einschl. Spannring für den Probentisch.

Optionen

Eine Variante dieses Gerätes kann so angepaßt werden, daß sie unter einige Atomic-Force Mikroskope, z.B. das NANOSCOPE III, einige Stand-Alone AFM's und unter das Ultraschallmikroskop (SAM) paßt. Nehmen Sie diese Möglichkeit mit in Ihre Diskussion hinein. Bei rechtzeitiger Entscheidung ist diese Modifikation ohne Aufpreis herzustellen.

• Heizeinrichtung: von Raumtemperatur bis 800 oder +/- 100 Grad Celsius, mit PID-Steuerung nachrüstbar.

Steuerungen

Wahlweise: Handsteuerung (Supermaus) für manuellen Betrieb oder Mikroprozessorsteuerung mit PC-Software. Zum Umstellen auf eine andere Steuerung oder deren Hinzufügen muß das Gerät für eine kurze Zeit zum Hersteller zurückgesandt werden.