Die Materialprüfung unter dem (Licht-)Mikroskop ist eine seit Jahrzehnten bekannte Erweiterung der konventionellen Prüfmethoden. Unsere besondere Stärke liegt darin, eine Verbindung herzustellen zu:

• Raster-Elektronenmikroskopie,
• Raster-Kraftmikroskopie (AFM, "Atomic Force Microscopy")
• und – inzwischen auch den FIB(Focused Ion Beam)-Anwendern

neue Möglichkeiten zu schaffen, in-situ Beobachtungen durchzuführen unter

• Zug - Druck-, Biege- oder Torsionsbelastung und ...
• diese Versuche mit Heizung und/oder Kühlung zu verknüpfen ...

... und immer wieder neue Geräte nach Ihren Wünschen entstehen zu lassen.