Die Kammrath & Weiss GmbH wurde 1995 von Walter Kammrath und Konrad Weiss gegründet.

Schon lange vor der Gründung in ihrer heutigen Form haben wir Entwicklungen nach den Wünschen unserer Kunden durchgeführt — zunächst fast ausschließlich für die Rasterelektronenmikroskopie. Andere Gebiete kamen hinzu, zum Beispiel FIB (Focused Ion Beam Workstations), AFM (Atomic Force Microscopy). Auch auf Gebieten, die nichts mit der Mikroskopie zu tun haben, gab es mehr und mehr Aufgaben für uns.